Tècniques de Microscòpia Avançada: SEM, STM, AFM i TEM

Enviado por Chuletator online y clasificado en Física

Escrito el en catalán con un tamaño de 2,47 KB

Tècniques de Microscòpia Avançada

  • Microscòpia Electrònica d'Escombratge (SEM)

    Aquesta tècnica permet arribar a uns 200.000 augments, facilitant l'observació de detalls nanomètrics. El seu funcionament no es basa en la llum, sinó en un feix d'electrons:

    • Funcionament: S'escalfa un filament de tungstè (efecte termoelèctric) per emetre electrons, que es focalitzen mitjançant electroimants per bombardejar la mostra.
    • Imatge: No permet diferenciar colors; les imatges es generen en escala de grisos mesurant els electrons secundaris que salten en fer un escombratge punt a punt (XY).
    • Característiques: La longitud d'ona dels electrons accelerats és inferior a 1 nm, permetent una gran resolució. Es realitza al buit i pot generar fenòmens simultanis, com l'emissió de rajos X.
  • Microscòpia d'Efecte Túnel (STM)

    És una aplicació pràctica de l'efecte túnel per visualitzar superfícies amb resolució atòmica:

    • Mecanisme: Es basa en la transferència d'electrons per efecte túnel entre la mostra i una punta, connectades a una font d'alimentació.
    • Sensibilitat: Com que l'efecte túnel és extremadament sensible a la distància, permet mapejar el relleu de les superfícies.
    • Requisit: La mostra ha de ser obligatòriament conductora elèctrica.
  • Microscòpia de Força Atòmica (AFM)

    Té un mode de treball similar a l'STM, però amb l'avantatge que la mostra no necessita ser conductora:

    • Funcionament: Mesura les forces d'atracció de Van der Waals entre la punta i la superfície.
    • Control: S'utilitza un sistema de fibra òptica (loop) per controlar la posició de la punta, garantint que s'acosti a la superfície sense arribar a incrustar-s'hi ni entrar en contacte directe.
  • Microscòpia Electrònica de Transmissió (TEM)

    Aquesta tècnica ofereix resolució atòmica mitjançant la transmissió d'electrons:

    • Procés: La mostra s'ha de tallar en làmines extremadament fines (d'aproximadament una micra de gruix) perquè els electrons puguin travessar-la.
    • Inconvenient: El principal repte és la preparació de la mostra, que resulta molt complexa.

Entradas relacionadas: